SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器緊密協作，SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀用于工頻高壓下有力扭轉，測量各種絕緣材料支撐作用、絕緣套管發揮、電力電纜、電容器非常完善、互感器深入各系統、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋發展的關鍵，具有操作簡單道路、中文顯示、打印真諦所在、使用方便指導、無需換算、自帶高壓深入交流研討、抗干擾能力強資料、測試時間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度zui快）等特點。 SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀主要技術參數(shù)： 1關註度、環(huán)境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應避免長時日照）
2橫向協同、相對濕度：30% ～ 70%
3、供電電源：電壓：220V±10%敢於挑戰、頻率：50±1Hz
4不斷創新、外形尺寸：長×寬×高 500mm×300mm×400mm
5、重量： 約18Kg
6提供了遵循、全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀輸出功率：0.6KVA
7參與水平、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8服務效率、測量范圍及輸出電壓選擇：
介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
試品電容容量（Cx）和加載電壓：
2.5KV檔:≤300nF（300000pF） 3KV檔:≤200nF（200000pF）
5KV檔:≤76nF（76000pF） 7.5KV檔:≤34nF（34000pF）
10KV檔:≤20nF（20000pF）
9明確相關要求、基本測量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA）
介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA）
電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF
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